프로젝트 설명

양자수율 자동측정장치 

Quantum yield Evaluation System

태양전지평가시스템, 양자수율자동측정장치, Solar Cell Evaluation System, Quantum yield

Product

계측 파장 범위 300 ~ 1200nm의 양자 수율 측정 가능
이 장치는 연료감응 태양 전지(DSC), 실리콘 태양전지를 비롯하여 반도체 광 전극 고성능화 연구에 필요한 장비 입니다.
양자 수율 특성(분광감도, IPCE 양자수율)을 빠르고 정확하게 측정합니다.
직류 전류 측정 방식으로 소형이며, 기존 제품에 비해 상당히 저렴합니다.

제품특징

  • 양자수율의 특성을 빠르고 정확하게 측정
  • 방사선 조사는 광섬유를 통해 측정 파장 범위: 300~1200nm의 양자수율을 측정
  • 편향된 빛을 이용하지 않는 직류 전류 측정

Specifications

사양

1) 계측 파장 300 ~ 1200nm의 양자 수율 측정 / 조사는 광섬유수행,
조사 강도는 400 ~ 800nm의 파장으로 3mW/cm ² (φ 3mm에서 0.21 mW 이상)
2) 광원 Xenon 램프, 할로겐 램프 500W 400W.  PC를 통한 자동 전환
3) 분광 프리즘 (초점 거리 10cm)
모터에 의하여 파장 자동 스캔
분광기에 필터 홀더 제공
4) 필터 빛 제거 필터 모터에 의한 자동 전환
5) 시료실 광섬유에 의한 조사, 광섬유 조명 지름 φ 3mm
조사 방향 파이버의 이동에 따라 위에서와 옆에서 방사선 조사가 가능
샘플 맞추기는 X, Y, Z 단계에 따라 수동 조작
6) 측정 디지털 멀티 미터 측정
직류 전류 측정 전용. 레인지 전환에 따라 최소 분해능 0.01 μ A
측정 샘플의 전류, 광 파워 측정 (Si, InGaAs) 수동 전환
전력 측정을 위한 SiPD는 검정, InGaAsPD는 제조업체 값 첨부
수광 면 크기(제조): SiPD10×10mm, InGaAsPD φ 5mm